HIM-SCTk

工業級全局三維掃描儀

描述

用來偵測并分析現實世界中物體或環境的形狀(幾何構造)與外觀數據(如顏色、表面反照率等性質)。

下載詳細參數頁
適用范圍

工業設計、瑕疵檢測、逆向工程、機器人導引、地貌測量、醫學信息、生物信息、刑事鑒定、數字文物典藏、電影制片、游戲創作素材等

產品參數

中國3D打印研發及綜合解決方案提供商

1.掃描最高精度:≤ 0.03mm ;

2.掃描速度:≥ 480,000次測量/秒 ;

3.基準距 :不小于300mm;

4.景深:≥ 200mm ;

5.最小分辨率:紅光0.050mm;藍光0.020mm;

技術優勢

工業產品測試領域內的技術開發

  • 文物保護

  • 工業測量

  • 城市規劃

  • 軍事分析

返回
最近中文字幕